
パターン認識と機械学習 上 - ベイズ理論による統計的予測 | C. M. ビショップ, 元田 浩, 栗田 多喜夫, 樋口 知之, 松本 裕治, 村田 昇 |本 | 通販 | Amazon,

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[A11784085]超LSIレジストの分子設計 (表面・薄膜分子設計シリーズ) 津田 穣
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